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自动测试设备
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著者
(英)matt wynne, (挪)aslak hellesoy著
(1)
上海科学技术情报研究所编辑
(1)
侯秀卿
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安振庄
(1)
张伦
(1)
张伦等编译
(1)
恽纪昌
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恽纪昌等编著
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王江平
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许晓斌
(1)
许晓斌, 王江平译
(1)
赫勒索
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韦恩
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出版日期
1973
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1977
(1)
1978
(1)
1985
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2013
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1.
封面仅供参考
Cucumber:行为驱动开发指南:behaviour-driven development for testers and developers
已借15次.
订购中
著者:
(英)Matt Wynne
(挪)Aslak Hellesoy著
出版社:
人民邮电出版社
出版日期: 2013
文献类型:
图书 , 索书号:
TP311.56/z587
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2.
封面仅供参考
自动测试通用接口系统
订购中
著者:
恽纪昌等编著
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 1985.12
文献类型:
图书 , 索书号:
TP206/926
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3.
封面仅供参考
自动测试系统
订购中
著者:
张伦等编译
出版社:
国防工业出版社
出版日期: 1978
文献类型:
图书 , 索书号:
TP216/120
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4.
封面仅供参考
国外集成电路测试自动化
订购中
著者:
出版社:
上海科学技术情报研究所
出版日期: 1977
文献类型:
图书 , 索书号:
在馆信息
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5.
封面仅供参考
国外集成电路测试仪概况
订购中
著者:
上海科学技术情报研究所编辑
出版社:
上海科学技术情报研究所
出版日期: 1973
文献类型:
图书 , 索书号:
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